X射线荧光光谱分析(第二版)
上QQ阅读APP看书,第一时间看更新

第三节 X射线散射

除光电吸收外,入射光子还可与原子碰撞,在各个方向上发生散射。X射线与物质的散射是由于X射线与电子的相互作用而产生的。散射作用分为两种,即相干散射和非相干散射。如果被散射光子能量与入射光子能量相同,则称为相干散射或弹性散射,相干散射又称为瑞利(Rayleigh)散射,没有能量损失。如果出现能量变化或损失,则为非相干散射,也称为康普顿(Compton)散射。

相干散射与光干涉现象相互作用的结果可产生X射线衍射。X射线衍射图与晶格排列等密切相关,可被用于研究物质结构。

一、相干散射

入射X射线光子与靶元素的内层电子碰撞,如果光子能量保持不变而只是改变了出射方向,这时的散射作用为相干散射,从能谱图上看,相干散射峰对应于入射光子能量,如图2-6中所示88.035keV处的γ射线(88.035keV)弹性散射峰。

图2-6 γ射线(88.035keV)弹性散射峰

相干散射由于受物质表面形状等影响较小,常被用来进行形态校正,以在一定程度上补偿形态、粒度等变化对分析结果的影响。

二、非相干散射

非相干散射会产生反冲电子,如图2-7所示。反冲电子将带走部分能量,根据能量守恒原理,这必然使出射光子能量降低。

图2-7 非相干散射(Compton散射)过程

设入射光子的波长为λ(nm),能量为E(keV),出射角为θ,则计算Compton散射峰波长的公式可表述如下:

根据:

则有:

Δλ(nm)=0.0024×(1-cosθ)  (2-18)

Compton散射能量Ec(keV)为:

故:

式(2-15)~式(2-19)表明散射角越大,波长或能量位移越显著。当采用波长色散或能量色散光谱仪进行定性和定量分析时,可以利用以上公式计算Compton散射峰位置,借以判断干扰,选择分析谱线。

非相干散射与相干散射强度比随散射体的原子序数增加而降低。当被散射物质的组成元素的原子序数越低时,非相干散射作用越强。故轻元素会产生非常强烈的Compton峰,甚至掩盖待测元素的有用信息。例如,在进行活体分析时,由于被测物体的低原子序数,致使Compton峰在低含量元素谱峰附近产生强烈重叠,故需要利用不同的仪器几何角设计,改变出射角,以尽量避开Compton峰对分析元素的干扰。图2-8是人胫骨的X射线荧光谱图,位于约66.5keV的Compton峰占据了整个光谱的主体,对痕量元素分析产生极大干扰,使得解谱成为必不可少的手段。

图2-8 用109 Cd照射石膏所产生的位于66.5keV的Compton峰

轻元素会产生强Compton散射,是轻元素基体条件下某些元素XRF分析比较困难的重要原因之一。